吉行, 大平, "テスト履歴に基づくFault-proneモジュール予測に向けた検討," ソフトウェアエンジニアリングシンポジウム2015論文集, pp. 188--194, 2015年9月.
ID 193
分類 研究会・全国大会等
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表題 (title) テスト履歴に基づくFault-proneモジュール予測に向けた検討
表題 (英文)
著者名 (author) 吉行 勇人,大平 雅雄
英文著者名 (author) Hayato Yoshiyuki,Masao Ohira
編者名 (editor)
編者名 (英文)
キー (key) Hayato Yoshiyuki,Masao Ohira
書籍・会議録表題 (booktitle) ソフトウェアエンジニアリングシンポジウム2015論文集
書籍・会議録表題(英文)
巻数 (volume)
号数 (number)
ページ範囲 (pages) 188--194
組織名 (organization)
出版元 (publisher)
出版元 (英文)
出版社住所 (address)
刊行月 (month) 9
出版年 (year) 2015
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注釈 (annote)
内容梗概 (abstract)
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BiBTeXエントリ
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